北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司
詳細摘要： 硅芯電阻率測試儀是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會（ASTM）*的材料驗收檢測方法設計。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2018-02-17 在線留言
詳細摘要： 薄膜方塊電阻測試儀 主要用來測量硅外延層、擴散層和離子注入層、導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻。它由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架、四探針頭及專業(yè)...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2018-01-17 在線留言
詳細摘要： 該儀器專門為硅料分選而設計，可以快速準確的測量PN型、重摻、電阻率。對碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料均可測量。系統(tǒng)同時配備三探針探頭、四探針...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2018-01-08 在線留言
詳細摘要： 擴展電阻測試儀型號：進口擴展電阻法是利用特殊的點接觸金屬探針，沿著樣品的表面 ，以微小的步進測出半導體材料或器件表面的每一點的擴展電阻值，由此得到電阻、電阻率和...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2017-12-31 在線留言
詳細摘要： 單晶型號測試儀是快速鑒別硅晶材料的導電類型“P"和“N"的測量儀器，測量范圍寬，硅材料電阻率從0.01~199.9Ω*cm。
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2017-12-14 在線留言
詳細摘要： 硅片電阻測試儀 是用來測量硅片、硅單晶、鍺單晶電阻率的測量儀器。它由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架、四探針頭及專業(yè)測量軟件組成。
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2017-12-05 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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